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欧美克 Topsizer Plus激光粒度分析仪

欧美克 Topsizer Plus激光粒度分析仪

Topsizer Plus激光粒度分析仪测量样品的粒度分布。既可测量在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。
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Topsizer Plus激光粒度分析仪测量样品的粒度分布。既可测量在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。


欧美克 Topsizer Plus激光粒度分析仪产品简介:

仪器引入了先进的光学设计,采用全球化的供应链体系,使激光衍射法的测试范围达0.01-3600um。

Topsizer Plus保持了Topsizer量程宽、重复性好、分辨力高、真实测试性能强和智能化程度高等优点,通过进一步提升光学设计、硬件和反演算法,

拓展了其测试范围以及实际测试性能,应用遍及化工、机械、建材、能源、医药等现代工业的各个领域。


适用于锂离子电池、制药、水文和精细化工等诸多行业,测试结果准确。不管是制药用的原材料、制剂还是锂离子电池正负*材料等,

Topsizer系列产品保证了测试结果和分析能力与国内外、行业上下游黄金标准保持一致,这不仅为用户节省了方法开发和方法转移上的时间和成本,

重要的是可避免粒度检测不准带来的经济损失和风险,无论在研发、过程控制还是质量控制上,都能够为用户带来价值。


Topsizer Plus激光粒度分析仪.png

Topsizer Plus激光粒度分析仪工作原理:


一束平行光在传播过程中遇到障碍物颗粒,光波会发生散射(衍射)偏转,偏转的角度跟颗粒的大小相关,散射(衍射)现象可以通过“Mie散射理论 ”来描述。颗粒粒径越大,光波偏转的角度越小;颗粒粒径越小,光波偏转角度越大。激光粒度分析仪就是利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。

通过对光学、算法、机械、电子、计算机等系统的整合和优化,使欧美克激光粒度仪具备重复性良好、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。


光学系统


Topsizer Plus激光粒度分析仪.jpg


双光源技术

Topsizer Plus激光粒度分析仪采用双光源设计,红光主光源为进口氦-氖激光器,波长0.6328μm;并有半导体蓝光辅助光源,波长0.466μm,提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中,红蓝双色光源技术为欧美克采用。


进口高性能氦氖激光器及电源

采用以长寿命,低噪声,高稳定性著称的进口知名品牌氦氖激光器及配套激光电源,为仪器提供理想的光学质量偏振光源。在气体激光器本身带来的稳定波长基础上,Topsizer Plus激光粒度分析仪采用的高性能光源系统同时具备功率稳定, 预热时间短, 偏振比高而稳定,模式纯度高等高性能激光粒度仪须的光学特性。确保仪器在不同工作环境下都能保持稳定工作,并带来无需标定的准确性性能。


直线光路设计

Topsizer Plus激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计,无多余反射光学部件造成的杂散光,亦无粉尘污染干扰,同时采用高精度全铝合金光学平台,确保光路稳固可靠。


后傅立叶变换单镜头设计

单镜头设计,采用透镜后傅立叶变换结构,突破了傅立叶透镜的光瞳制约,使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制;而且单镜头光路中的折射、反射面减少,可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至低水平,提高了仪器测量时的信噪比。


长焦距的傅里叶透镜

Topsizer Plus激光粒度分析仪选用具有较长焦距的傅立叶透镜,这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离(也就是有效焦距),从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号,大大增强了仪器对大颗粒的测试能力,仪器的测量上限达3600μm。


合理分布、高感光度的进口光电探测器

  Topsizer Plus激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器,确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达103个,由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统,探测角范围达到0.016-140度。结合蓝光散射信号,实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收,有效保证颗粒散射光能信息的*面准确获取。


智能自动对中

  智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中。自动对中在几十秒内即可完成,既可作为自动测量的一部分,亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。


分散系统

标配SCF-108A循环进样器,采用(号:2012204087053)的灯笼头下压式水流循环回路设计,配备大功率准确自动控制搅拌电机,转速可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生,并具有良好的分散、清洗、排干能力。内置功率大至50W的管路超声装置,超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池,可根据客户需求更换容量。

根据需要可选择更多不同特性(例如微量、微量循环、耐腐蚀等)的湿法进样器。

干法进样系统:标配DPF-110自动干法进样器,分散气压0.05-0.6MPa无级可调,三重可调下料机

构设计,可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感器,测试窗口全密闭,具有负压保护装置,可有效防止窗口和主机的污染。



功能强大的分析软件

丰富的自定义报表功能,方便用户灵活的获取数据和定制报表样式。

用户可以灵活定义报告的标题、Logo,选择在报告中显示的模块,并对这些模块进行设置。如可调整行数、列数,坐标轴范围,报告内容和参数等均可根据需要设定。

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软件设计模块化,仪器状态可视化,操作界面人性化。流程界面清晰明了,拥有导航功能。

仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统;每次测量前能自动测量电背景,有效减少电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试,手动测样亦有清晰的导航测试功能。

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具备SOP标准操作流程,减少人为因素的影响,使分析测试流程标准化。


SOP测量程序编辑及运行:

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多种数据分析模型,满足不同特性样品的测试需要。体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。可根据用户需要设置指定的粒径段。


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完善、开放的样品特性参数数据库,具有常用样品折射率和吸收率参数。


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多种方式的测量数据导出,方便数据交流。



具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能


 

良好的仪器性能

Topsizer Plus对于Topsizer的升级中的一个重要特点是保留了在 0.02-2000um段数据与 Topsizer一致。通过光路、硬件和算法的升级进一步提升了测试范围至0.01-3600um。


宽广的测量范围

与市场上其他使用不同技术通过拼接的方案提高测试范围不同,Topsizer Plus的实测范围为0.01-3600um,使用静态光散射一种技术实现从亚微米颗粒到毫米级颗粒的检测,严格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的国标要求,并能满足不同粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。


宽分布样品

对大颗粒具有强大测试能力

7-14目玻璃微珠

对纳米、亚微米等超细颗粒具备良好识别能力

100nm latex


杰出的分辨能力

Topsizer Plus能够准确测定样品中颗粒分布的微小变化,准确反映样品的实际粒度分布,能够满足技术研究和质量控制的需要。图中的混合物样品为5.1um/14um/37.8um标样按比例配置。

良好的再现性

不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。

快速的测试速度

Topsizer Plus优异快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提,使常规的测试能在10秒内快速完成,大幅提升了测试的效率,更好的满足了用户的需求。


高灵敏度

多达103个光电探测通道,由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统,探测角度可达140度。每次测试之前,软件自动检测信噪度,使仪器对大小颗粒的微小变化有着良好的灵敏度。

优良的适应性

可选具有强分散能力分散系统,即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀,从而满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。




如需了解更多 欧美克 Topsizer Plus激光粒度分析仪 原理、使用方法、操作视频、技术参数、说明书文档,请联系51仪器仪表网工作人员。
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